表面分析：SIMS GCIB-TOF-SIMSによる光学フィルム表面処理層の定性分析

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表面分析：SIMS GCIB-TOF-SIMSによる光学フィルム表面処理層の定性分析の詳細情報

GCIB-TOF-SIMSによる光学フィルム表面処理層の定性分析。二次イオン質量分析法－TOF-SIMS法の紹介－ : SI NEWS : 日立ハイテク。飛行時間型二次イオン質量分析 (TOF-SIMS) | 受託分析サービス | 東芝。二次イオン質量分析法の基礎と応用に関する専門書。- タイトル: 表面分析：SIMS- 著者: D. ブリッグス, M.P. シーア- 定価: 8500円- 出版社: アグネス承風社ご覧いただきありがとうございます。透明のブックカバーを付けて使用しておりました。そのまま付けて発送予定です。20年以上前に発行された本かつ、古本にご理解のほどお願いします。中身は美品だと思います。。飛行時間型二次イオン質量分析(TOF-SIMS) | 日鉄テクノロジー。Gina GG☆浜学園小6 最高レベル特訓算数第1、2、3分冊。鉄緑会高3化学。全世界の河川事典。mu 精華プリントまとめ。ばっちりくん53冊セットCD付